Описание: Одновременный / многофункциональный анализ:
Пространственное разрешение:
Одновременное использование 3-х лазеров (785 нм, 633 нм, 488 нм) путем автоматического переключения необходимых компонентов внутри системы
Краткие технические характеристики:
Спектральный диапазон регистрации Рамановских сигналов: 30 см-1 ~ 6000 см-1 (зависит от длины волны лазера возбуждения)
Спектральное разрешение: 0.25 см-1
Чувствительность: регистрирует 4-ый порядок в Рамановском спектре кремния за 1 минуту накопления сигнала
Режимы сканирования:
- Fast mapping: сканирование лазерного луча по поверхности неподвижного образца с помощью XY гальваносканнера
- перемещение образца с помощью XY автоматизированного стола микроскопа относительно неподвижного лазерного луча
- комбинированный режим для получения панорамных изображений с высокой скоростью и высоким пространственным разрешением: XY сканнер (Fast mapping) + автоматизированный стол микроскопа
Операторы: Кузьмин С.М., Дышин. А.А.