Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 PRO

Тип: 
Микроскоп
Назначение: 
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47-PRO позволяет исследовать поверхность образцов на участках размером до 50×50 мкм.
Технические характеристики: 

Размер образца 40х40х10мм

Сканеры : 

3х3х1мкм (±10%)

10х10х2мкм (±10%)

50х50х3мкм (±10%)

Минимальный шаг сканирования 0.0004 нм; 0.0011 нм; 0.006 нм

Способ сканирования Образцом

СЗМ головки

АСМ

СТМ

30пА-50нА, RMS шум 4пА (стандартный предусилитель)

10пА-5нА, RMS шум 1,5пА (низкотоковый предусилитель)

Shear Force

Оптическая система (опционально)

Числовая апертура 0,1

Увеличение с 58х до 578х Разрешение 3 мкм.

Горизонтальное поле зрения от 5,1 до 0,51мм

Система контроля и управления СЗМ контроллер

Вибрационная изоляция

Встроенная пассивная изоляция

Активная антивибрационная система доступна по требованию

Описание: 

 

Место нахождения прибора: ИГХТУ

 

В университете установлен и введен в эксплуатацию сканирующий зондовый микроскоп Solver47-PRO с разрешением порядка 1 нм.

 

Сканирующий зондовый микроскоп Solver47-PRO позволяет исследовать поверхность образцов на участках размером до 50×50 мкм. 

 

 

Имеющиеся методики позволяют: 

 

  • определить рельеф поверхности в контактном и полуконтактном режимах, 
  • провести сканирование поверхности методом туннельной микроскопии, 
  • получить изображение поверхности в виде распределения коэффициента трения или твёрдости материала, 
  • определить силу адгезии и  распределение потенциала взаимодействия с зондом при удалении от поверхности в определенной точке. 

 

Имеется возможности проводить также следующие виды измерений, используя двухпроходные методики:  

 

  • Электростатическая Силовая Микроскопия – является эффективным средством для исследования распределения электрического поля и зарядов по поверхности образца 
  • Метод Зонда Кельвина – позволяет изучать распределение поверхностного потенциала по образцу. 
  • Сканирующая Емкостная Микроскопия – предназначена для исследования распределения поверхностной емкости по образцу. С помощью СЕМ можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образца. 
  • Магнитная Силовая Микроскопия – позволяет получить изображение пространственного распределения магнитных сил по поверхности образца. 

 

 Объектами исследования могут служить любые твердые материалы (кроме порошков), удовлетворяющие следующим условиям:

 

  • площадь  образцов не должна превышать 1 см2 , масса до 100 г. 
  • общая шероховатость на участке сканирования – не более 3 мкм 
  • толщина образца – не более 1 см 

 

 Исследования могут проводиться при различных температурах: от комнатной до 140 ˚С. Размер образцов 5×5 мм.

 

 

Исследование порошкообразных материалов возможно только после предварительной подготовки, которая заключается в связывании порошков с помощью какого-либо связующего материала, поддающегося механической обработке, с последующей шлифовкой поверхности подготовленного образца. Связующий материал должен отличаться от порошка по твердости и коэффициенту трения.

 

Контактная информация:

По всем вопросам обращаться к доценту кафедры ТР и МЭТ 

Игорю Владимировичу Холодкову, 

Главный корпус (пр. Ф.Энгельса, 7), к. 120 или 230, 

тел. 30-73-46, доб. 228, 234, 

e-mail: kholodkov@isuct.ru