Назначение:
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) предназначен для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Плоскопараллельное сканирование СЗМ по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации.
